Glossario

Radiografia X: analisi di restituzione fotografica su lastra o pellicola della permeabilità ai raggi X di uno spessore di materia; l'immagine relativa all'interno dell'oggetto è resa attraverso la diversa radiopacità dei materiali.
Termoluminescenza:
Fluorescenza X (o XRF): tecnica di analisi spettroscopica qualitativa e semiquantitativa che sfrutta l'emissione caratteristica dei raggi X degli elementi investigati; essa è indotta dall'interazione di radiazioni X di alta energia incidenti sulla superficie da analizzare. Può essere eseguita direttamente sul manufatto di interesse e quindi essere una analisi non invasiva.
Diffrattometria di raggi X (o XRD): analisi mineralogica qualitativa o semiquantitativa di fasi cristalline; usa la diffrazione dei raggi X, aventi lunghezza d'onda confrontabile con la distanza tra piani cristallini, da parte dei piani reticolari della sostanza analizzata. Non fornisce risultati in presenza di sostanze amorfe o di fasi deliquescenti. La Diffrattometria a raggi X (lunghezza d'onda 0,05-0,23 nm) permette di misurare le sollecitazioni sulla superficie del manufatto saldato (profondità dell'ordine di 10 ?M) e può essere usata anche sul campo, per avere la possibilità di misurare le sollecitazioni nel corpo del manufatto è necessario sezionarlo (quindi diventa un tecnica distruttiva). La diffrazione misura direttamente lo stato di deformazione locale del reticolo cristallino del materiale saldato, in quanto permette di confrontare le distanze reticolari degli atomi in un campione totalmente privo di sollecitazioni con quelle del campione saldato. Dallo stato di deformazione locale e dalle caratteristiche meccaniche ed elastiche del materiale base è possibile risalire allo stato di sollecitazione presente nel materiale. Questa metodologia pur avendo il vantaggio di essere non distruttiva, non è generalmente applicabile a strutture di grosse dimensioni.
Diffrattometria neutronica: Per la diffrazione, possono essere usati tanto raggi X quanto neutroni, ciò che è rilevante è che la lunghezza d'onda dell'agente rivelatore sia prossima alla distanza reticolare del materiale. In questo senso, la diffrattometria neutronica fornisce i risultati più affidabili. Essa richiede una sorgente neutronica ad alta intensità (quindi un reattore nucleare), pertanto non può essere applicata estesamente. Come per i raggi X, i neutroni inizialmente vengono fatti diffrangere da un campione privo di sollecitazioni interne (in genere questi campioni si ottengono o da polvere del materiale base o da cubetti di piccole dimensioni trattati termicamente), successivamente vengono fatti diffrangere dal campione in cui si vogliono misurare le sollecitazioni residue, ottenendo in entrambi i casi misure delle distanze atomiche entro il reticolo, dalla differenza fra questi valori si può risalire allo stato di sollecitazione nel provino, conoscendo i valori del tensore di elasticità del materiale. La Diffrattometria neutronica permette la misurazione delle sollecitazioni nel corpo del manufatto (profondità massima da 20 mm per le leghe di W a 300 mm per le leghe di Al), ma, per i motivi già indicati, non può essere usata sul campo.
Metallografia: indagine tesa a rivelare le caratteristiche strutturali e la costituzione dei materiali metallici. Si esegue su campioni in sezione lucida sotto microscopio in luce riflessa normale o polarizzata mediante attacco chimico selettivo degli elementi strutturali.
Microscopia ottica UV: tecnica di osservazione del campione che utilizza un microscopio ottico con un sistema di due o più lenti (oculare e obiettivo), in grado di ingrandire e investigare sui campioni colpiti da luce ultravioletta. In campo artistico la microscopia ottica, oltre che per lo studio di campioni prelevati dall'opera (analisi distruttiva), può essere utilizzata per l'osservazione diretta dell'opera (analisi non distruttiva), assai utile in fase di diagnostica conservativa.
SEM (Scanning Electron Microscope) -EDX (Energy Dispersive X-ray): si indica un metodo analitico strumentale che sfrutta l'emissione di raggi X generati da un fascio elettronico accelerato incidente sul campione, la cui strumentazione è costituita da un microscopio elettronico a scansione, che può superare i 200.000 ingrandimenti. L'impatto degli elettroni sulla superficie del campione genera una serie di fenomeni, caratteristici degli elementi in esso presenti.
Emissione di raggi X indotta da particelle (o PIXE): tecnica di analisi spettroscopica qualitativa e semiquantitativa molto sensibile; sfrutta l'emissione indotta di raggi X caratteristici degli elementi presenti, causata dall'impatto con particelle cariche (protoni) accelerate. Ha il pregio di eseguire analisi non invasive.
Cromatografia ionica (o IC): tecnica di separazione analitica che utilizza una fase stazionaria e una soluzione come eluente; è indicata per analisi qualitativa e quantitativa di sostanze ioniche solubili. È nota anche come cromatografia a scambio ionico.
Gascromatografia (o GC): tecnica di separazione analitica che utilizza una fase stazionaria (la colonna di separazione) e un eluente gassoso inerte; indicata per analisi qualitativa e quantitativa di sostanze organiche vaporizzabili eluite mediante un gradiente di temperatura. In campo artistico la tecnica è molto indicata per l'identificazione precisa delle sostanze organiche.
Spettroscopia infrarossa (o spettroscopia IR): è una tecnica spettroscopica di assorbimento normalmente utilizzata nel campo della chimica analitica e della caratterizzazione dei materiali, oltre che in chimica fisica per lo studio dei legami chimici. Quando un fotone infrarosso viene assorbito da una molecola, questa passa dal suo stato vibrazionale fondamentale ad uno stato vibrazionale eccitato. In un tipico spettro infrarosso in ascissa troviamo una scala di frequenze espresse in numero d'onda, ovvero quantità di onde per centimetro, e in ordinata la percentuale di trasmittanza. Se un materiale è trasparente alla radiazione infrarossa il suo spettro si presenterà come una linea parallela all'asse delle ascisse. Se un materiale non è completamente trasparente si verificheranno degli assorbimenti e quindi delle transizioni tra livelli energetici vibrazionali. In questo secondo caso lo spettro registrato sarà caratterizzato da una serie di picchi di altezza variabile per ciascuna transizione. Dallo spettro infrarosso è possibile trarre utili informazioni per il riconoscimento di una molecola incognita. A tal proposito, al fine di associare un legame a un dato numero d'onda, si utilizzano apposite tavole riportate in bibliografia o librerie elettroniche incluse nel software della strumentazione.
Spettroscopia di plasma indotto da laser (o Libs): è una tecnica che permette di effettuare analisi sia qualitative che quantitative, tramite lo studio dello spettro ottico emesso dal plasma generato dall'interazione tra, una radiazione laser ad alta potenza e un campione che può essere solido, gassoso o liquido.
Spettrometria di massa (o MS): metodo di identificazione di una sostanza, generalmente organica, attraverso lo studio della frammentazione caratteristica dopo una forte sollecitazione. La spettrometria di massa si basa sulla frammentazione riproducibile ottenuta tramite bombardamento con particelle o scariche elettriche di una sostanza vaporizzata.
Videomicroscopia a fibra ottica:
Documentazione e diagnostica 3D macro e micro - dimensionale:
Microfotogrammetria digitale: